Nikon N-SIM E超高解析顯微鏡

Nikon N-SIM E運用結構式照明成像技術,突破一般光學極限,水平軸的解析度達115nm,垂直軸的解析度達269nm,解析力提升約2倍,讓光學顯微鏡觀察範圍推向分子層級,開啟科學研究的新視野。此系統更為精簡且經濟實惠,支援常用的激發波長和基本成像模式,是個人實驗室的最佳選擇。

★產品特點

◎優於傳統光學顯微鏡的分辨率

利用結構式照明顯微技術(Structured Illumination),並搭配Nikon開發之特殊演算法,運用莫爾條紋Moiré pattern干涉原理,將來自兩種不同方向的空間頻率重疊;透過傅立葉轉換運算公式,讓原本損失無法觀察的細節還原,進而得到約傳統光學系統2倍的解析力影像資訊。
 

◎時間解析度可達每秒1張

N-SIM E實現高速超高解析圖像擷取,時間分辨率約1秒/幅,因此可有效進行活體細胞觀察實驗。

◎3D-SIM模式 - Z軸高解析成像技術

可使用Slice 3D-SIM(標配)與Stack 3D-SIM(選購)這兩種方法建構Z軸影像。

◎3雷射多色超高解析度成像

N-SIM E專用精簡型LU-N3-SIM雷射基座,安裝最常用的3組雷射(488/561/640),可進行多色超高分辨率成像。

◎物鏡優化

SR(super resolution) objectives高解析系列物鏡,可配置60x或100x,其中100x油鏡適合固定封片式樣本,60x水鏡則適合活細胞長時間成像。

★產品規格

 


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