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Laser TIRF-2 (Total Internal Reflection Fluorescence) System 雷射全內反射螢光系統

 
 TIRF 全內反射螢光影像系統為 NIKON 最新發展之簡易且平易近人的螢光顯微鏡設備,主要原理為利用光學全反射原理所產生之漸逝波( Evanescent Wave) 激發距蓋玻片表面 50-100nm 厚度的螢光物質 ( 圖一 ) ,相較於傳統螢光影像系統, TIRF 可避免激發遠離蓋玻片表面之螢光物質,提高 Signal to noise ( S/N) 的比例而增加擷取影像的清晰度。 ( 圖二 )


圖一
圖二 Images courtesy of: Dr. Gregg G. Gundersen, Columbia University

傳統螢光影像,,,,TIRF 影像 ,,,,TIRF/ 傳統螢光影像套色相疊
專屬 Plan Apo TIRF 60X 物鏡設計具超高 N.A. 1.45 ,全球獨有 23 ℃ -37 ℃溫度校正功能,可避免介質油因溫度變化產生折射率改變所造成之球面差現象,其他另有 Plan Apo TIRF 100X 物鏡可供選用 ( 圖三 ) 。
圖三
此外, NIKON 倒立顯微鏡 TE2000 硬體上獨有之 "Stratum Structure" 設計,除 TIRF 與傳統螢光影像可作切換使用外 , 另可擴充 confocal scanhead 或 laser tweezers 等,對於研究學者實驗需求選擇上更具彈性 ( 圖四 ) 。 圖四

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