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【工業精密量測】覆晶技術基本流程

覆晶技術基本流程

 
覆晶封裝技術,即是指將晶粒(Die)之接合墊上生成錫鉛凸塊(solder bump),而於基板上的接點與晶片上凸塊相對應,接著將翻轉之晶粒對準基板上之接點放置於基板上,經由迴銲(reflow)製程將凸塊融化,待凸塊冷卻凝固之後,便形成晶片與基板之間的信號傳輸通路。
將IC晶片反轉置正面與基板電路接和,使用此方式可降低晶片與基板間電子訊號傳輸距離、縮小 IC 晶片封裝後的尺寸、整體來說可降低訊號干擾、提高傳輸速度及訊號密度、最低連接電路耗損、良好的散熱、電性傳導佳。
 

流程圖如下:

 
 
圖片1.png - 【工業精密量測】覆晶技術基本流程
 
 
 
覆晶法利用蒸鍍法製造錫鉛凸塊並晶粒正面翻覆朝下,藉此在晶粒上所植之凸塊與陶瓷基板連接,故稱覆晶,如下方示意圖。
 
圖片2.png - 【工業精密量測】覆晶技術基本流程
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