解決不平整表面量測高度問題
將所有點位數值平均處理降低因表面不平整之誤差
量測產品表面高度時，如果是平整如鏡面般光滑的產品，僅需使用一般點對點的高度量測計算兩點之間的高度差即可，但實際作業中最害怕遇到如鑄造金屬件般的粗糙金屬表面，再用肉眼看時表面非常平整，但一放到顯微鏡下就有如月球表面般的凹凸不平，如果不改變量測方式，同樣僅使用兩點差計算高度的話，那非常容易出現對焦在高點或低點的值差異非常大。
解決方案
VM 系列在遇到此問題的解決方式為將基準平面上打多個點位，建立虛擬平面，在要量測高度的點上，取得多點資訊，利用多於觀測的方式，來平均，將低僅取高點或僅低點所造成的誤差。
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| 粗糙表面示意圖 | 粗糙金屬表面 |
應用產品
 | VMZ - S 系列（VMZ - S 3020 / VMZ - S 4540 / VMZ - S 6555）Nikon 新一代卓越的智能測量系統 VMZ - S，所代表的就是精緻 、迅速 、聰明。它的主要特色是: 高精準度 、 高速率 、 高適用性。不但是速度提升，也多了視野內量測精度的保證，其軟體之設計更加的人性化，更符合客戶之需求與使用。 |