國祥首頁首頁 箭頭 最新消息 箭頭 【工業精密量測】解決不平整表面量測高度問題

解決不平整表面量測高度問題

將所有點位數值平均處理降低因表面不平整之誤差

 
量測產品表面高度時,如果是平整如鏡面般光滑的產品,僅需使用一般點對點的高度量測計算兩點之間的高度差即可,但實際作業中最害怕遇到如鑄造金屬件般的粗糙金屬表面,再用肉眼看時表面非常平整,但一放到顯微鏡下就有如月球表面般的凹凸不平,如果不改變量測方式,同樣僅使用兩點差計算高度的話,那非常容易出現對焦在高點或低點的值差異非常大。

解決方案

VM 系列在遇到此問題的解決方式為將基準平面上打多個點位,建立虛擬平面,在要量測高度的點上,取得多點資訊,利用多於觀測的方式,來平均,將低僅取高點或僅低點所造成的誤差。
 
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粗糙表面示意圖 粗糙金屬表面
 

應用產品

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VMZ - S 系列(VMZ - S 3020 / VMZ - S 4540 / VMZ - S 6555)

Nikon 新一代卓越的智能測量系統 VMZ - S,所代表的就是精緻 、迅速 、聰明。它的主要特色是:  高精準度 、 高速率 、 高適用性。不但是速度提升,也多了視野內量測精度的保證,其軟體之設計更加的人性化,更符合客戶之需求與使用。
 
 
 

 

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