電子顯微鏡代客量測

掃描式電子顯微鏡主要用於觀察固體表面的形貌，使人員能夠觀測微米（μm）到奈米（nm）等級的樣品，也能與 X 射線繞射儀或電子能譜儀相結合，構成電子微探針，用於物質成分分析，深入了解材料的結構和組成，可用於材料科學、金屬顆粒分析、生命科學、半導體製程等領域。台灣儀器行現正提供代客量測服務，只為解決您的量測問題！

√ 應用範圍：細微物質結構觀察、材料成分分析
√ 特色：最大60000x放大倍率、SEI / BEI 量測