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【工業精密檢測設備】顯微鏡基礎知識 - 使用校正環物鏡消除玻璃造成的像差(上)

顯微鏡基礎知識 - 使用校正環物鏡消除玻璃造成的像差(上)

資料來源:https://www.microscopyu.com/tutorials/adjustment-of-objective-correction-collars

大多數顯微鏡物鏡設計是以標準厚度為 0.17 mm、折射率為 1.515 的蓋玻片為基準,當物鏡數值孔徑為 0.4 或更小時,可以得到令人滿意的結果。然而當使用高數值孔徑的乾式物鏡(數值孔徑為 0.8 或更大)時,僅幾微米的蓋玻片厚度變化會由於像差而導致圖像品質顯著退化,隨著蓋玻片厚度的增加,這種情況會變得更糟。

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圖1. 附校正環的物鏡 L Plan EPI CR 系列,有 20x、50x 及 100x 可選擇

為了補償這個誤差,可以使用如圖1配備校正環的物鏡,透過調整物鏡筒內關鍵透鏡組的位置,改變透鏡元件之間的間距,以適應蓋玻片厚度的變動。補償的原理如下圖2所示,補償前影像模糊不清,轉動校正環使中間的可動透鏡組向上調整,得到補償後清晰的影像。

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圖2. 補償前後的透鏡組位置比較

蓋玻片的標準厚度為0.17 mm指的是1½ 號蓋玻片,但蓋玻片的生產製造並非都控制在微米級的公差範圍,且許多標本和蓋玻片之間的介質折射率差異很大,且在大多數情況下,調整校正環往往會造成焦點偏移,圖像也會橫向漂移。因此,要正確使用附校正環的物鏡,一部分必須仰賴使用者的觀察和經驗判斷來調整校正環,以補償這些細微差異並確保物鏡達到最佳性能。

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