CWS-1000 高效自動化量測方案:IC 載板上下料量測系統
應用範圍
1. 半導體製造(Semiconductor Fabrication)
2. IC 封裝與先進封裝(Packaging / Advanced Packaging)
3. PCB 與載板(ABF、BT、HDI)
4. 光電面板(Display / MicroLED / OLED)
5. MEMS、感測器、微機電
6. 材料科學(薄膜、金屬、陶瓷)
優點
1. 降低人為誤差:自動上下料避免人工碰撞與微損傷
2. 提升生產效率:全自動流程突破人力節拍限制
3. 量測更客觀一致:線上高精度量測確保標準一致、穩定
4. 即時數據回饋:量測結果立即回傳,利於製程調整
5. 避免數據孤島:生產與量測數據整合,提高追溯與分析能力
6. 提升良率與品質穩定度:精準控制每一片載板的製程狀態
7. 可持續運轉:自動化系統 24/7 支援高產能需求
8. 降低人力依賴:減少技術門檻與人力成本

傳統製程的四道枷鎖,正拖垮您的產能與良率

在高密度 IC 載板製造中,傳統人工上下料與量測方式已無法因應日益提升的精度要求。人工接觸容易造成微損傷、產線節拍被人力限制、量測結果缺乏一致性,甚至形成「數據孤島」,使製程無法即時調整。
CWS-1000 高效自動化量測方案:IC 載板上下料量測系統

人為誤差 (Human Error)

載板價值高昂,人工取放易因碰撞產生微損傷,導致巨大損失。
CWS-1000 高效自動化量測方案:IC 載板上下料量測系統

效率瓶頸 (Efficiency Bottleneck)

生產節拍不斷加快,人力作業的速度與穩定性已難以匹配。
CWS-1000 高效自動化量測方案:IC 載板上下料量測系統

量測主觀性 (Measurement Subjectivity)

目檢或離線量測無法達到 100% 客觀、一致的標準,且數據無法即時回饋。
CWS-1000 高效自動化量測方案:IC 載板上下料量測系統

數據孤島 (Data Silos)

生產數據與量測數據分離,難以進行製程追溯與大數據分析。

整合自動上下料系統與線上高精度量測,能有效降低人為誤差、突破效率瓶頸,並以即時數據建立完整的製程追溯與良率分析。這不只是設備升級,而是邁向智慧製造與穩定品質的關鍵一步。

CWS-1000 高效自動化量測方案:IC 載板上下料量測系統

1. 上料 (Loading)

夾軸自料盒取料至流道處
2. 傳送至量測機 (Transfer to Measurement)
SCARA 機器人精準放置於量測平臺
3. 即時量測 (Real-time Measurement)
VMZ-S 進行關鍵尺寸量測
4. 數據傳送 (Data Transfer)
即時分析、良品/不良品判定記錄
5. 傳送至暫存區 (Transfer to Buffer)
SCARA 機器人將載板移出量測平臺
6. 下料 (Unloading)
夾軸將載板送回料盒

CWS-1000 以全自動化方式處理 IC 載板量測流程,協助產線提升穩定度、速度與客觀性,打造真正可持續運轉的高效率製造環境。

CWS-1000 高效自動化量測方案:IC 載板上下料量測系統
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