AMD WLI 白光干涉儀 樣板報告
應用範圍
可廣泛應用於對表面品質要求極高的半導體、光學加工、3C玻璃、薄膜製備、奈米材料、薄膜、超精密加工等工業領域。
優點
以非接觸的掃描方式,實現針對樣品表面的超高重複精度的3D測量,獲取樣品表面的2D、3D數據。

【光學、透鏡】

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針對大尺寸的光學透鏡類器件,無論是用於可見光波段還是紅外光波段(材質、鍍膜不同),均需要對曲率半徑、粗糙度進行檢測,部分工藝研究中還需要對表面瑕疵進行測量分析。

【光學、微光學器件】

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為獲得更好的光學處理效果,須對玻璃或樹脂等光學材料結構進行微納工藝加工,如時下流行的投影儀中勻光用的鐳射擴散片,還有各類組成特殊圖案的衍射元件,工業用光柵、特殊目的的光學器件。

【半導體製造、減薄矽片粗糙度】

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半導體減薄矽片
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粗磨矽片3D圖像
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細磨矽片3D圖像
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多檔分析_細磨片25次測量資料
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細磨片25次測量資料Sa曲線圖

減薄工序中粗磨和細磨後的矽片表面3D圖像,用表面粗糙度Sa數值大小及多次測量數值的穩定性來回饋加工品質。在生產車間強雜訊環境中測量的減薄矽片,細磨矽片粗糙度集中在5nm附近,以25次測量資料計算重複性為0.046987nm,測量穩定性良好。


【半導體製造、IC晶圓磨劃】

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磨劃工藝,是先用鐳射鐳射機將IC晶圓鐳射燒蝕出一條條數十微米的槽道,再使用砂輪刀將IC晶圓分割成一塊塊IC,鐳射槽道的深、寬尺寸直接關係到後續切割的品質,因此需要測量其槽道輪廓,再根據槽道輪廓資料對鐳射參數進行調整,以符合磨劃工藝要求。

【半導體製造、晶圓IC晶片】

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【3C電子、手機玻璃】

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在手機玻璃螢幕上均勻選取若干個小區域,採用自動多區域進行測量,獲取其不同位置處的粗糙度進行綜合評估。

【3C電子、藍寶石玻璃製品】

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從校平後的3D圖像及提取的剖面輪廓曲線來看,半成品的藍寶石玻璃光面上分佈有許多1~2nm的凸起,而從sa和ra數值對比來看,該藍寶石製品的粗糙度一致性較好,表面比較均勻。

【超精密加工、摩擦學研究】

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摩擦作為表面工程的一種,是研究摩擦與磨損行為之間相互關聯的基礎理論和技術,而針對磨損量的檢測,不僅涉及到簡單的輪廓尺寸分析,還包含高階的區域面積&體積參數等需求。

【(超)精密加工】

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超精密加工指用各種超精密加工機床加工出的具有微觀特徵的零部件,廣泛分佈在模具、精密製造等行業。

【微納器件結構】

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【漿料印刷工藝】

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漿料印刷工藝廣泛應用在電子、光伏、釺焊等多個行業中,由於印刷後的絲線厚度、寬度等參數對器件性能有重要影響,因此在工藝上必須對線寬和線高進行檢測,以便對工藝進行改進和監測。

【輕薄樣品】

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輕薄樣品主要分佈在化工材料、包裝材料等行業,由於其輕薄的特點,一般的輪廓儀無法進行準確的測量,而光學3D表面輪廓儀可準確獲取其微觀輪廓、粗糙度等參數。

【大尺寸樣品 拼接測量案例】

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【產品概述】

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光學3D表面輪廓儀是以白光干涉掃描技術為基礎設計而成的,用於樣品表面形貌檢測的精密儀器。

【產品架構及原理】

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系統測量原理

1.在視場範圍內從樣品表面底部到頂部逐層掃描,獲得數百張干涉條紋圖像

2.找到該過程中每一個圖元點處於光強最大時的位置,完成3D重建

【產品功能與特色】

快速測量軟體模式

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測量與分析同介面操作的一體化軟體,預先設好配置參數,結合操縱桿,可一鍵完成從測量到分析的全部流程,並對結果資料進行自動統計,適用於快速批量的測量需求。


產品功能

1. 粗糙度測量功能:從0.1nm級別的超光滑表面到數十微米級別的粗糙表面,儀器均能實現高精度測量,支持ISO/ASME/EUR/GBT等國內外標準的數百種2D、3D參數。
2. 輪廓尺寸測量功能:最高支持奈米級高度測量和0.4um級的線寬測量,最大支持80倍的槽深寬比測量,具備點、線、面相關的寬度、高度、角度、直徑等各類輪廓尺寸測量功能。
3. 自動多區域測量功能:實現方形、(橢)圓形外觀樣品的大範圍內等分距離的多個小區域的自動測量。
4. 自動拼接功能:當待測區域大於鏡頭視野尺寸時,採用自動拼接功能設置好起點和終點,即可一鍵完成大區域範圍的測量,同時可根據樣品表面品質選擇高精度和高速掃描兩種模式。
5. 預程式設計分析功能:可在測量前設置好資料處理和分析流程,實現測量到分析的一鍵式操作,有效縮減操作步驟。
6. 同步分析功能:3D圖與分析工具同介面設計,支持視圖直接操作,分析工具即時更新分析結果,大大縮減操作時間。

功能特點

1. 複合型掃描演算法:集合了PSI高精度&VSI大範圍雙重優點的EPSI掃描演算法,有效覆蓋從超光滑到粗糙等所有類型樣品,無須切換,操作便捷。
2. 自動測量功能:批量樣品測量,無須精確對焦,即可一鍵完成測量分析。
3. 雙重防撞保護功能:Z軸上裝有防撞機械電子感測器、軟體ZSTOP防撞保護功能,雙重保護,多一份安心。
4. 地面&聲波振動雜訊隔振模組:氣墊防震系統&經過內部抗震處理的測頭,能夠有效隔離地面震動雜訊和空氣中傳播的聲波震動雜訊,保證在吵雜的環境也可正常工作。
5. 環境雜訊檢測功能:特有的環境雜訊評價功能能夠定量檢測儀器當前所處環境的綜合雜訊數值,對儀器的測試可靠性提供指導。
6. 完善的售後服務體系:遵循客戶第一的原則,設備故障第一時間遠端&現場解決,軟體免費升級。

【技術規格表】

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注:粗糙度性能參數依據 ISO25178-2012 國際標準在實驗室環境下測量Sa為0.2nm矽晶片Sq 參數獲得;階高參數是依據 ISO4287-1997在實驗室環境下測量4.7µm階高標準塊獲得。

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105台北市松山區南京東路三段272號8樓
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