在精密量測作業現場，影像量測常見的做法是採用高倍率觀察方式，以確保微小細節能被清楚辨識。然而，這樣的量測模式也容易帶來限制 — 視野範圍縮小，只能看見工件整體的一小部分。當視野受限時，整體判斷將變得困難，潛在缺陷可能隱藏於視野之外而未被察覺。

另一方面，工件全貌被切割成多個零散片段，使量測人員必須頻繁移動平台、反覆比對不同區域影像，不僅增加作業時間，也提高誤判風險，最終仍難以對量測結果產生充分信心。

視野受限所帶來的精密量測三大風險

在影像量測測過程中，單一視野往往不足以代表工件整體狀態，關鍵缺陷可能存在於視野之外，導致判斷依據不完整。

於高倍率觀察條件下，畫面邊緣區域容易因視野限制而被忽略，邊緣瑕疵或結構異常也可能因此被誤解或誤判。

為補足整體視野，量測人員必須反覆移動平台、手動比對多個影像區域，不僅耗費時間，也增加人為操作與判斷誤差的風險。

Nikon VMZ 系列的影像量測拼圖功能，不只是單純將影像放大，而是將多個等尺寸的獨立視野進行精準拼接，形成一張清晰、完整，可追溯的高解析影像。

透過拼圖技術，量測人員無需在細節與整體之間反覆切換，一次檢視，即可同時掌握細節與全貌，大幅提升判斷效率與量測信心。